使用AFM（原子力顯微鏡）成像微觀和奈米結構的基本方法
使用AFM（原子力顯微鏡）成像微觀和奈米結構的基本方法 (P2538000)
接近安裝在懸臂上的尖銳矽尖端到樣品表面會導致原子尺度的相互作用。 結果是雷射檢測到懸臂的彎曲。 在靜態模式下，產生的偏轉用於使用反饋迴圈逐行調查樣品表面線的地形。 在動態模式下，懸臂以固定頻率振盪，導致表面附近的阻尼振幅。 測量引數（設定點、反饋增益）對影象品質起著至關重要的作用。 對不同的奈米結構樣品研究了它們對成像品質的影響。
實驗特色：
- 靜態和動態模式下的調查
- 修改眾多引數以最佳化影象品質
- 對不同的樣品進行實驗
- 出色的價效比
- 專為教學實驗室而設計
- 顯微鏡由一個緊湊的行動式儀器組成，不需要額外的儀器
- 分離振動以獲得更好和可重現的結果
實驗內容:
- 學習如何安裝懸臂（帶尖端）並接近樣品的尖端。
- 調查掃描引數對成像品質和效能的影響，例如 PID增益、設定點（力）、振動振幅和掃描速度。 使用靜態和動態力模式。
- 透過分別最佳化引數，對不同的樣品（微觀結構、碳奈米管、面板橫截面、細菌、CD衝壓器、晶片結構、玻璃珠）進行成像。
儀器內容：
精緻型AFM，原子力顯微鏡 x1