用半導體探測器檢查了散射角度與金箔α粒子散射速率之間的關係。 該探測器對α粒子的檢測率為1,幾乎沒有零效應,因此脈衝數與擊擊探測器的α粒子數完全一致。 為了獲得最大的計數率,使用了可以追溯到查德威克的測量幾何形狀。 在這種情況下,也可以將箔片和光源向軸向移動(從而偏離查德威克的原始裝置),以便散射角度可以在廣泛的範圍內變化。 除了帶金箔的環形隔膜外,還提供了第二個帶鋁箔的隔膜,以研究散射材料對散射率的影響。
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